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间歇模原子力显微镜非线性振动的数值模拟

Numerical simulation of nonlinear vibration of tapping mode atomic f orce microscopy

  • 摘要: 原子力显微镜(简记为AFM)是利用其微悬臂梁的机械振动响应于力敏探针和实验样品表面之间的相互作用力来成像的,由于具有原子和分子级的分辨率,已成为表面成像及材料微结构研究的新工具,在科学技术的各种领域获得了广泛的应用1-2

     

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